EBIC 控制放大器設(shè)備-簡介
——
· 型號：KDT-EBIC-AMP-2024
· 分辨率：10pA
· 帶寬：≤100KHz
· 跨阻增益檔位：1MΩ/10MΩ/100MΩ/200MΩ
I
EBIC（電子束感應(yīng)電流）控制放大器設(shè)備是與掃描電子顯微鏡（SEM）配合使用的高精度測量系統(tǒng)，主要用于集成電路失效分析中的電流信號放大和成像。
主要功能：掃描電子顯微鏡（SEM）、電流放大器、電真空饋通、控制與分析軟件。
底噪測試
參數(shù)：輸入懸空，跨阻增益 1M
高分辨率
EBIC技術(shù)可以提供高分辨率的失效點(diǎn)定位，有助于精確分析集成電路的失效原因
靈活性
EBIC技術(shù)可以與其他失效分析方法（如光學(xué)顯微鏡、曲線軌跡分析等）結(jié)合使用，提高分析的準(zhǔn)確性和效率。
最大峰值輸出
EBIC控制放大器優(yōu)勢：非破壞性，不會損壞集成電路的表面，可以保持樣品的完整性
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
紫外APD 探測器
紫外APD 探測器是一款可200-1000nm 內(nèi)置雪崩高壓和放大部分 放電檢測器。具備200nm-1000nm的響應(yīng)波長范圍，-3dB帶寬 優(yōu)于10MHz，輸出信號范圍0- +3. 5VpP，輸出信號噪聲<10mVpp基底，結(jié)構(gòu)緊促。
I
光電二極管IV測試設(shè)備是用于精確測量光電二極管電流-電壓（IV）特性的專業(yè)儀器，其通過施加電壓并測量對應(yīng)電流，繪制IV曲線以分析器件性能，是光電二極管研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制中的關(guān)鍵工具。
20db增益射頻放大器系列是一款理想的高速脈沖放大器。帶寬DC-1.0GHz ，增益20dB，噪聲優(yōu)于5.0dB，阻抗50Ω特征阻抗匹配。雙極性信號輸出;
H13700探測器SCDC網(wǎng)絡(luò)輸出模組暫無公開詳細(xì)資料，其功能可能聚焦于探測器信號的數(shù)字化處理與網(wǎng)絡(luò)化傳輸，需結(jié)合具體設(shè)備文檔或廠商技術(shù)說明進(jìn)一步分析。
